产品描述
吉时利4200-SCS半导体参数分析仪KEITHLEY4200A-SCS参数分析仪
产品概述KEITHLEY 4200-SCS
Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统可执行实验室级直流和脉冲器件特性分析、实时绘图和分析,具有和亚飞米至安培分辨率。Keithley 4200-SCS 提供全集成特性分析系统中的功能,包括一台完整的嵌入式 PC,配有 Windows 操作系统和大容量存储器。其自文档化、点击式界面可加快和简化数据采集过程,因此用户可以快地开始分析。其他功能可实现适用于各种性测试的应力测量功能,并通过 LCR 仪表支持提供测量和高分辨率。
Keithley 4200 系统的功能包括:
直观的、点击式的基于 Windows 的环境
特的远程前置放大器将 SMU 的分辨率扩展至 0.1fA
CV 仪器使 CV 测量变得像 DC IV 一样简单
脉冲和脉冲 IV 功能,适用于的半导体测试
示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能
立的 PC 提供快速的测试设置、强大的数据分析、绘图和打印以及板载存储测试结果
特的浏览器样式项目导航器按设备类型组织测试,允许访问多个测试,并提供测试排序和循环控制
内置压力/测量、循环和数据分析,用于点击性测试,包括五个符合 JEDEC 标准的样本测试
集成对各种 LCR 表、Keithley 开关矩阵配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脉冲发生器的支持
包括分析探测器的软件驱动程序
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地址:广东省 深圳市 宝安区 沙井街道 万丰社区 工人路A栋920
联系人:谭会艳女士
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