泰克370A租售/回收Tektronix370b晶体管测试仪

泰克 370B 曲线追踪仪是高分辨率曲线追踪仪的世界标准。Tek 370B 提供高达 20 A / 2000 V 的供电能力以及 1 pA 和 50 µV 的测量分辨率。Tektronix 370B 对集成电路、晶体管、晶闸管、二管、SCR、MOSFET、电光元件、太阳能电池、固态继电器和其他半导体器件进行直流参数表征。它具有按钮源和测量配置，因此可以轻松地从一个测试改为下一个测试。

Tek 370B 可用于多种应用，包括：

半导体的参数表征

故障分析 

数据表生成

制造测试

过程监控和质量控制

即将到来的检查

元件匹配

Tektronix 370B 曲线追踪仪的功能包括：

高分辨率直流参数测量（分辨率低至 1 pA 或 2 µV） 

 内置光标测量：点、窗口和函数线

开尔文感应测量

扫描测量模式

波形比较和平均

可编程

1.44 MB 软盘驱动器可存储设置和曲线位图

使用打印机直接打印

交互式可编程控制

所有 370B 测量的交互式控制都是通过全功能板或 GPIB 完成的。每个操作参数都可以使用 GPIB 控制器进行控制。370B 系列 LabView 驱动程序可从www.。这些驱动程序具有许多构建块来创建自定义测量解决方案。

存储和调用设置以及数字化曲线

软盘或内部非易失性存储器中可存储多达 80 条数字化特性曲线，只需按一下按钮即可调用。然后可以将实时曲线与先前存储的曲线进行比较，以评估温度漂移或操作参数的其他变化。为了帮助识别数据，多可以使用 24 个字符的文本来标记或注释曲线数据。可以使用多种存储方法调整、存储和调用操作参数，包括 370B 系统内存、内置 1.44 MB 软盘驱动器，或通过 GPIB 控制器向外部发送。

自动光标

370B 提供三种光标测量模式。点光标可在屏幕上直接读出任意点的电压、电流、gm 或 DC beta。窗口光标可以定位在两条曲线之间以测量小信号 beta 或 gm，也可以用于视觉通过/不通过测试。功能线光标提供斜率或截距值的屏幕读数。

扫描测量模式

在扫描测量模式下，曲线描绘器自动构建一系列曲线。 

直接硬拷贝打印输出

曲线输出数据可以直接从 370B 和 371B 发送到 Citizen iDP-3240 热敏打印机。当 370B 和 371B 执行接下来的任务时，打印可以继续。