吉时利4200SCS长期收购keithley4200-SCS半导体分析系统

使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和工艺的开发，完成制程控制、性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和快脉冲 I-V曲线测量。

参数查看，快速清晰。

推进大胆发现如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50％，从而实现的测量和分析能力。此外，嵌入式测量知识提供的测试指导，并让您对终结果充满信息。

特点

用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的测量硬件

立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试

自动实时参数提取、数据绘图、分析函数

准确的 C-V 表征

使用吉时利新的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业的 CVU 架构中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。

特点

同类产品中能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表

1 kHz 频率，分辨率从1 kHz 到 10 MHz

测量电容、电导和导纳

使用 4200A-CVIV 多路开关多可测量四个通道

测量、 切换、 重复。

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的时轻松排除故障。

特点

重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

用户可配置低电流功能

个性化输出通道名称

查看实时测试状态

稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。

特点

不必将仪器送回工厂即可增加 SMU

进行 飞安测量

多达 9 个 SMU 通道

针对长电缆或大卡盘进行了优化

带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

特点

“点击”测试定序

“手动”探测器模式测试探测器功能

探测器模式移除命令即可实现调试