回收原装机hioki IM3570阻抗分析仪

IM3570 Hioki阻抗分析仪

Hioki IM3570阻抗分析仪，宽带4Hz-5Mz，用于高速测试和扫频

特点:

用于高速测试和扫频的单器件解决方案

Hioki IM3570阻抗分析仪、LCR计和阻抗分析仪能够在一台测量仪器中测量4 Hz至5 MHz的频率和5 mV至5 V的测试信号电平。高级功能包括使用交流信号的LCR测量、使用直流(DCR)的电阻测量以及持续改变测量频率和测量水平的扫描测量。

IM3570有助于在不同的测量条件和测量模式下进行高速连续测量，因此到目前为止需要多台测量仪器的检测线只需配备一台设备即可。

测量时间缩短

与以前的型号相比，测量时间缩短了，在LCR模式下实现了1.5毫秒(1 kHz)和0.5毫秒(100kHz)的较大速度。(显示器关闭时，显示器打开时，时间增加0.3毫秒)。与以前的Hioki产品(基本速度为5毫秒的3522-50和3532-50)相比，这在速度上有了显著的提高。快的速度有助于增加测试数量。此外，扫描测量需要测量多个点，实现了每个点0.3毫秒的快速速度。

低阻抗测量精度提高

与之前的Hioki产品相比，在低阻抗测量过程中，重复精度提高了一位数。例如，当条件为1mω(1v，100 kHz)且测量速度适中时，可以实现重复精度(变化)为0.12%的稳定测量，因此该仪器适合100 kHz ESR测量。

电感器(线圈和变压器)的DCR和L-Q测量

该仪器能连续测量L-Q (1 kHz，1mA恒流)和DCR，并在同一屏幕上显示数值。电流相关元件，例如包含磁芯的线圈，其电感值根据施加的电流而变化，可以用恒定电流(CC)进行测量。与以前的产品相比，在低阻抗测量过程中，重复精度提高了一位数，因此可以稳定测量DCR。

与之前的Hioki产品相比，通过提高0°的测量精度，可以对0°接近90°的高Q和Rs值进行绝对精度和一位数重复精度的测量。

产品特点:

LCR，DCR，扫描，和连续测量与高速测试在一个单一的单位

在LCR模式下，较大测试速度为1.5毫秒(1 kHz)和0.5毫秒(100kHz)

Z参数基本精度高:0.08%

非常适合测试压电元件的谐振特性、功能性聚合物电容器的C-D和低ESR测量、电感器(线圈和变压器)的DCR和L-Q测量

在分析仪模式下执行频率扫描、电平扫描和时间间隔测量

支持测量条件的高速切换